由 demi 提交于 周一, 25 十一月 2019 - 09:13 本文档适用于STM8和STM32系列微控制器，介绍了用于确定微控制器器件对 ESD 损坏的敏感性的过程。 详阅请点击下载《静电放电敏感度测量》 静电放电敏感度测量 STM8 STM32 登录或注册以发表评论