跳转到主要内容
--## 电子创新网图库均出自电子创新网,版权归属电子创新网,欢迎其他网站、自媒体使用,使用时请注明“图片来自电子创新网图库”,不过本图库图片仅限于网络文章使用,不得用于其他用途,否则我们保留追诉侵权的权利。 ##--

本网站转载的所有的文章、图片、音频视频文件等资料的版权归版权所有人所有,本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如果本网所选内容的文章作者及编辑认为其作品不宜公开自由传播,或不应无偿使用,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。
winniewei 提交于

3月27日,2025中国IC领袖峰会在上海金茂君悦大酒店圆满落幕。本次峰会以“省思与擘画”为主题,汇聚了半导体行业的顶尖厂商和领袖人物,共同探讨中国半导体产业的未来发展方向。峰会期间,备受瞩目的中国IC设计成就奖正式揭晓,思尔芯(S2C)凭借其完善的数字前端EDA解决方案,荣获了“2025中国IC设计成就奖之年度创新EDA公司”奖项,彰显了行业对其技术创新和贡献的高度认可。

作为国内首家数字EDA供应商,思尔芯副总裁陈英仁受邀出席峰会,并围绕《思尔芯新一代硬件辅助验证平台:双引擎加速复杂AI应用芯片设计创新》主题发表演讲。他在演讲中指出:“随着AI应用的快速发展,芯片设计进入千亿门级时代,软件代码量激增至亿行级别,设计验证面临前所未有的挑战。同时,AI大数据处理需求激增,GPU/CPU算力要求不断提升,新一代AI芯片的研发周期缩短,时间压力巨大。”

1.jpg

为应对这些挑战,思尔芯的硬件辅助验证平台,通过双引擎模式加速芯片设计。该平台集成了原型验证和硬件仿真,采用统一的硬件平台,结合业界领先的密度和性能,以及自动化的RTL级编译流程,显著提升了验证效率,缩短了设计迭代周期,能够满足从软件、硬件到调试的整体验证需求,为复杂AI芯片设计提供了强大的创新动力。

陈英仁进一步解释道:“该硬件辅助验证平台不仅减少了硬件采购成本,还通过快速编译加速硬件验证,同时为软件开发提供更高性能。硬件验证团队和软件开发团队可以在同一硬件平台上,在不同设计阶段使用。更重要的是,其扩展的原型验证与硬件仿真应用场景,提升了验证的灵活性和效率。”

大会期间,备受瞩目的中国IC设计成就奖同期公布,思尔芯被授予了“2025中国IC设计成就奖之年度创新EDA公司”奖项。该奖项旨在表彰在中国IC设计链中占据领先地位、引领中国IC设计产业中所做出的杰出贡献的代表公司。思尔芯此次获奖是行业与市场对其技术实力的肯定。随着AI技术的广泛应用,思尔芯将继续致力于通过创新的EDA解决方案,助力芯片设计行业应对复杂挑战。

2.jpg


来源:思尔芯S2C

精彩推荐

2026英伟达GTC大会专题

CES 2026(国际消费类电子产品展览会)专题

第四届南渡江智慧医疗与康复产业高峰论坛

第十五届松山湖中国IC创新高峰论坛

第四届滴水湖中国RISC-V产业论坛

Recent comments

  • 1873774516_516738
  • 2460440665_516737
  • 1457585548_516736
  • 780289498_516735
  • 2283262460_516734