NI为自动化测试和实验室特性分析应用提供了各种源测量单元(SMU)。 这些SMU兼具传统台式SMU的功能和测量性能，同时采用NI技术，使其更小巧、更快速且更灵活。 NI SMU小巧的组成结构和模块化特性使其成为并行IV测试系统重要仪器，可帮助您在19英寸4U机架空间内开发高达68个通道的高通道数解决方案。 模块化PXI平台使您能够通过PXI背板触发这些源测量单元SMU，以同步与其他仪器的测量，包括高速数字I/O仪器、射频分析仪、发生器、高速数字化仪。
<strong>1. 多样的硬件选择</strong>
NI提供了多种SMU组成结构。 这些模块满足了从为通用自动化测试供电到对半导体设备执行参数测试等各种测试和特性分析需求。 下表列出了NI的各款SMU。
<strong>系统SMU</strong>
SMU之所以可以得到广泛的应用是因为它将高功率、高精度、高速源测量功能集成到单个SMU通道上。 这些仪器提供了20W的连续直流电源和高达500W的瞬时脉冲功率。
