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加快洞见能力等多重需求推动,全新裕度测试解决方案重塑PCIe测试

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自从PCIe 1.0规范以来,在不到20年里,业界已经为迎接PCIe Gen 6.0规范作好准备。由于每一代新标准较上一代的数据速率都会翻一番,PCIe Gen 6.0的速度要比2003年问世的最初PCIe Gen 1.0规范快25倍。

【未来可测】系列之二:忆阻器单元基础研究和性能研究测试方案

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忆阻器英文名为memristor, 用符号M表示,与电阻R,电容C,电感L构成四种基本无源电路器件,它是连接磁通量与电荷之间关系的纽带,其同时具备电阻和存储的性能,是一种新一代高速存储单元,通常称为阻变存储器(RRAM)。