NI

Digi-Key Electronics 拥有全球品类最丰富的电子元件库存，并且能够立即发货，其宣布已在今年前三个季度新增 70 多家核心供应商，借此扩大了产品组合。截止目前，核心供应商总数已达到 1,200 家。到 2020 年底，该公司将在核心产品当中新增近 150,000 个供应商零件编号。

德克萨斯州奥斯汀-2020年11月18日 - 益莱储Electro Rent与NI公司（NASDAQ：NATI）今天宣布新的合作伙伴关系，向益莱储庞大的客户网络出租NI自动化测试和测量解决方案，合作从北美开始，随后将在2021年扩展至全球范围。

NI公司（NASDAQ：NATI），与航空航天和国防领域测试系统专业供应商SET GmbH和Tech180 Inc.共同宣布了一项战略合作，致力于颠覆传统军工测试系统的设计、开发和维护。三家公司将共同提供一项崭新的测试系统构建方法，涉及全新的产品、硬件和软件框架、开（源）放式系统参考架构以及创新型的需求导向工程方法论。

根据对全球自动驾驶汽车和电动汽车测试市场的最新分析，Frost＆Sullivan授予NI 2020年全球卓越创新奖。NI在不同产品开发阶段（例如设计，验证，原型设计和制造）的测试中发挥着至关重要的作用。

关于射频芯片测试的那些事

我们发布了射频芯片测试重要性的文章后插入损耗、隔离度、开关时间、谐波……哪个是射频开关测试痛点？ 就有粉丝在后台问，在射频芯片测试中一头雾水，能不能具体讲解下各个测试

也许大家已经注意到，随着无线设备复杂性急剧增加，手机支持的频段数量也在不断增加。从最开始的2个GSM频段，到现在的4个GSM频段，3个CDMA频段，5个UMTS频段和10个LTE频段。未来，诸如5G New Radio等标准将继续增加无线设备的复杂性。开关是射频前端模块（RF FEM）切换多个频段的关键元件，所以，我们今天要讨论的话题就是射频开关测试方法

作者：NI高级产品营销经理Jonah Paul

回想您过去作为工程师的一年：您的角色发生了何种变化？ 过去五年又发生了哪些变化？ 随着技术变革的步伐不断加快，您必须调整工作的各个方面，并提高效率。

NI为自动化测试和实验室特性分析应用提供了各种源测量单元(SMU)。 这些SMU兼具传统台式SMU的功能和测量性能，同时采用NI技术，使其更小巧、更快速且更灵活。 NI SMU小巧的组成结构和模块化特性使其成为并行IV测试系统重要仪器，可帮助您在19英寸4U机架空间内开发高达68个通道的高通道数解决方案。